目 前EUV技 術 采 用 的 曝 光 波 長 為13.5nm,由于其具有如此短的波長,所有光刻中不需要再使用光學鄰近效應校正(OPC)技術,因而它可以把光刻技術擴展到32nm以下技術節(jié)點。2009年9月Intel*** 次 向 世 人 展 示 了22 nm工藝晶圓,稱繼續(xù)使用193nm浸沒式光刻技術,并規(guī) 劃 與EUV及EBL曝 光 技 術 相 配 合,使193nm浸沒式光刻技術延伸到15和11nm工藝節(jié)點。 [1]電子束光刻技術是利用電子槍所產(chǎn)生的電子束,通過電子光柱的各極電磁透鏡聚焦、對中、各種象差的校正、電子束斑調(diào)整、電子束流調(diào)整、電子束曝光對準標記檢測、電子束偏轉校正、電子掃描場畸變校正等一系列調(diào)整,***通過掃描透鏡根據(jù)電子束曝光程序的安排,在涂布有電子抗蝕劑(光刻膠)的基片表面上掃描寫出所需要的圖形。是對半導體晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)進行開孔,以便進行雜質(zhì)的定域擴散的一種加工技術。南通供應光刻系統(tǒng)選擇
為把193i技術進一步推進到32和22nm的技術節(jié)點上,光刻**一直在尋找新的技術,在沒有更好的新光刻技術出現(xiàn)前,兩次曝光技術(或者叫兩次成型技術,DPT)成為人們關 注 的 熱 點。ArF浸沒式兩次曝光技術已被業(yè)界認為是32nm節(jié)點相當有競爭力的技術;在更低的22nm節(jié)點甚至16nm節(jié)點技術中,浸沒式 光刻技術也 具 有相當大 的優(yōu)勢。01:23新哥聊芯片:13.光刻機的數(shù)值孔徑浸沒式光刻技術所面臨的挑戰(zhàn)主要有:如何解決曝光中產(chǎn)生的氣泡和污染等缺陷的問題;研發(fā)和水具有良好的兼容性且折射率大于1.8的光刻膠的問題;研發(fā)折射率較大的光學鏡頭材料和浸沒液體材料;以 及 有 效 數(shù) 值 孔 徑NA值 的 拓 展 等 問題。針 對 這 些 難 題 挑 戰(zhàn),國 內(nèi) 外 學 者 以 及ASML,Nikon和IBM等公 司已 經(jīng) 做 了 相 關 研 究并提出相應的對策。浸沒式光刻機將朝著更高數(shù)值孔徑發(fā)展,以滿足更小光刻線寬的要求。常熟直銷光刻系統(tǒng)多少錢目的:除去溶劑(4~7%);增強黏附性;釋放光刻膠膜內(nèi)的應力;防止光刻膠玷污設備;
由于193nm沉浸式工藝的延伸性非常強,同時EUV技術耗資巨大進展緩慢。EUV(極紫外線光刻技術)是下一代光刻技術(<32nm節(jié)點的光刻技術)。它是采用波長為13.4nm的軟x射線進行光刻的技術。EUV光刻的基本設備方面仍需開展大量開發(fā)工作以達到適于量產(chǎn)的成熟水平。當前存在以下挑戰(zhàn):(1)開發(fā)功率足夠高的光源并使系統(tǒng)具有足夠的透射率,以實現(xiàn)并保持高吞吐量。(2)掩模技術的成熟,包括以足夠的平面度和良率制**射掩模襯底,反射掩模的光化學檢測,以及因缺少掩模表面的保護膜而難以滿足無缺陷操作要求。(3)開發(fā)高靈敏度且具有低線邊緣粗糙度(LineEdgeRoughness,LER)的光刻膠。 [3]
制造掩模版,比較靈活。但由于其曝光效率低,主要用于實驗室小樣品納米制造。而電子束曝光要適應大批量生產(chǎn),如何進一步提高曝光速度是個難題。為了解決電子束光刻的效率問題,通常將其與其他光刻技術配合使用。例如為解決曝光效率問題,通常采用電子束光刻與光學光刻進行匹配與混合光刻的辦法,即大部分曝光工藝仍然采用現(xiàn)有十分成熟的半導體光學光刻工藝制備,只有納米尺度的圖形或者工藝層由電子束光刻實現(xiàn)。在傳統(tǒng)光學光刻技術逼近工藝極限的情況下,電子束光刻技術將有可能出現(xiàn)在與目前193i為**的光學曝光技術及EUV技術相匹配的混合光刻中,在實現(xiàn)10nm級光刻中起重要的作用。另外層間對準,即套刻精度(Overlay),保證圖形與硅片上已經(jīng)存在的圖形之間的對準。
1.氣相成底模2.旋轉烘膠3.軟烘4.對準和曝光5.曝光后烘焙(PEB)6.顯影7.堅膜烘焙8.顯影檢查光刻是平面型晶體管和集成電路生產(chǎn)中的一個主要工藝。是對半導體晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)進行開孔,以便進行雜質(zhì)的定域擴散的一種加工技術。準分子光刻技術作為當前主流的光刻技術,主要包括:特征尺寸為0.1μm的248 nm KrF準分子激光技術;特征尺寸為90 nm的193 nm ArF準分子激光技術;特征尺寸為65 nm的193 nm ArF浸沒式技術(Immersion,193i)。其中193 nm浸沒式光刻技術是所有光刻技術中**為長壽且**富有競爭力的,也是如何進一步發(fā)揮其潛力的研究熱點。傳統(tǒng)光刻技術光刻膠與曝光鏡頭之間的介質(zhì)是空氣,而浸沒 式技術則是將空氣 換成液體介質(zhì)。其技術發(fā)展歷經(jīng)紫外(UV)、深紫外(DUV)到極紫外(EUV)階段,推動集成電路制程不斷進步 [3] [6]。吳江區(qū)耐用光刻系統(tǒng)多少錢
目的:使表面具有疏水性,增強基底表面與光刻膠的黏附性。南通供應光刻系統(tǒng)選擇
b、接近式曝光(Proximity Printing)。掩膜板與光刻膠層的略微分開,大約為10~50μm。可以避免與光刻膠直接接觸而引起的掩膜板損傷。但是同時引入了衍射效應,降低了分辨率。1970后適用,但是其最大分辨率*為2~4μm。c、投影式曝光(Projection Printing)。在掩膜板與光刻膠之間使用透鏡聚集光實現(xiàn)曝光。一般掩膜板的尺寸會以需要轉移圖形的4倍制作。優(yōu)點:提高了分辨率;掩膜板的制作更加容易;掩膜板上的缺陷影響減小。投影式曝光分類:南通供應光刻系統(tǒng)選擇
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