杭州芯紀源半導體設備有限公司2025-08-30
背景噪聲過高會使超聲圖像中的有用信號被噪聲掩蓋,難以清晰地分辨出被檢測物體的內部結構和缺陷特征。這會增加缺陷檢測的難度,導致誤判和漏判的概率增加,降低檢測的可靠性。
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