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芯紀(jì)源晶圓鍵合檢測(cè)設(shè)備如何支持先進(jìn)封裝工藝優(yōu)化?

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杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司2025-09-13

該設(shè)備通過實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)反饋功能,將缺陷位置、尺寸與工藝參數(shù)(如鍵合溫度、壓力、時(shí)間)關(guān)聯(lián)分析,幫助工程師快速定位工藝瓶頸;其智能化軟件支持缺陷趨勢(shì)預(yù)測(cè),可提前調(diào)整參數(shù)避免批量報(bào)廢。

杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司
杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司
簡(jiǎn)介:杭州芯紀(jì)源成立于 2024 年,融合聲、光及 AI 算法,專注半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備研發(fā)制造,提供超聲檢測(cè)。
簡(jiǎn)介: 杭州芯紀(jì)源成立于 2024 年,融合聲、光及 AI 算法,專注半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備研發(fā)制造,提供超聲檢測(cè)。
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    杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 2025-09-16

    設(shè)備內(nèi)置工藝數(shù)據(jù)庫(存儲(chǔ)不同材料、結(jié)構(gòu)的比較好檢測(cè)參數(shù)),支持一鍵調(diào)用歷史方案;針對(duì)2.5D/3D封裝,提供多層結(jié)構(gòu)檢測(cè)模式(如逐層掃描+三維重建),可精細(xì)定位TSV通孔中的空洞或分層缺陷。

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    杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 2025-09-17

    芯紀(jì)源與頭部半導(dǎo)體企業(yè)合作開發(fā)定制化檢測(cè)模塊(如針對(duì)AI芯片高密度鍵合優(yōu)化掃描路徑),縮短工藝開發(fā)周期;其設(shè)備支持與FAB廠自動(dòng)化產(chǎn)線對(duì)接,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)-反饋-調(diào)整閉環(huán)控制,提升良率。

  • 杭州芯紀(jì)源半導(dǎo)體
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