新品鏡片從研發(fā)到量產(chǎn)，需要反復(fù)驗(yàn)證缺陷規(guī)格與工藝窗口。優(yōu)普納裝備提供“研發(fā)模式”：工程師可手動(dòng)調(diào)整光源角度、曝光時(shí)間、增益參數(shù)，實(shí)時(shí)查看 7 μm 分辨率下的缺陷細(xì)節(jié)；AI 算法開(kāi)放閾值接口，可自定義劃痕、氣泡的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)。所有實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)保存至云端，形成可追溯 DOE 報(bào)告。100+ 件號(hào)配方讓研發(fā)成果一鍵復(fù)制到量產(chǎn)設(shè)備，縮短導(dǎo)入周期 70%。鏡片出口歐美需通過(guò) FDA、CE、IATF16949 等多重認(rèn)證，缺陷記錄必須完整可追溯。優(yōu)普納裝備在檢測(cè)完成后自動(dòng)生成符合 GAMP5 的電子記錄：缺陷圖片、坐標(biāo)、尺寸、光學(xué)參數(shù)、操作員、設(shè)備編號(hào)、時(shí)間戳全部加密存儲(chǔ)，支持 15 年追溯；報(bào)表可一鍵輸出 PDF/CSV/XML，滿足 FDA 21 CFR Part 11 要求。轉(zhuǎn)盤(pán)式單顆檢測(cè)確保數(shù)據(jù)與實(shí)物一一對(duì)應(yīng)；100+ 件號(hào)配方支持多客戶審計(jì)并行。江蘇優(yōu)普納科技的高精度檢測(cè)設(shè)備，具備Z軸可調(diào)功能，適應(yīng)不同厚度鏡片的精確檢測(cè)。全自動(dòng)光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠家

我們重視與您的每一次合作，致力于不斷提升售后服務(wù)質(zhì)量。在設(shè)備維修完成后的一周內(nèi)，我們的售后人員會(huì)對(duì)您進(jìn)行回訪，了解設(shè)備維修后的運(yùn)行情況，確保您對(duì)維修服務(wù)滿意。同時(shí)，每季度我們還會(huì)開(kāi)展一次全方面的客戶滿意度調(diào)查，通過(guò)電話回訪、在線問(wèn)卷等方式，收集您對(duì)設(shè)備性能、售后服務(wù)等方面的意見(jiàn)與建議。我們會(huì)對(duì)收集到的信息進(jìn)行認(rèn)真分析總結(jié)，對(duì)于您提出的問(wèn)題及時(shí)整改優(yōu)化，對(duì)于您的寶貴建議積極采納應(yīng)用，不斷完善我們的產(chǎn)品與服務(wù)，努力為您提供更加質(zhì)優(yōu)、貼心的售后體驗(yàn)，讓您在使用我們的光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備過(guò)程中無(wú)后顧之憂。高精度內(nèi)窺鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備源頭工廠江蘇優(yōu)普納科技的光學(xué)透鏡檢測(cè)儀，適用于透明材質(zhì)部件，檢測(cè)精度達(dá)7μm，行業(yè)先進(jìn)企業(yè)。

機(jī)械安全：轉(zhuǎn)盤(pán)區(qū)域配備光電聯(lián)鎖，異常侵入時(shí)2ms內(nèi)切斷動(dòng)力電源。電氣安全：符合EN 60204-1標(biāo)準(zhǔn)，接地電阻小于0.1Ω。數(shù)據(jù)安全：支持本地加密存儲(chǔ)與斷點(diǎn)續(xù)傳，可選配物理隔離網(wǎng)絡(luò)模塊。應(yīng)急處理：關(guān)鍵故障自動(dòng)保存此外50件產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù)，避免批次損失。設(shè)備內(nèi)置ISO 5725精度驗(yàn)證程序，可通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣板自動(dòng)計(jì)算重復(fù)性（Repeatability）與再現(xiàn)性（Reproducibility）指標(biāo)。檢測(cè)算法通過(guò)3000組缺陷樣本的交叉驗(yàn)證，不同類(lèi)型缺陷的檢出概率標(biāo)準(zhǔn)差控制在±2%以內(nèi)。提供第三方驗(yàn)證報(bào)告模板，支持CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證需求。

2.5D結(jié)構(gòu)光系統(tǒng)通過(guò)多角度投射生成缺陷三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)，對(duì)氣泡、夾雜物等亞表面缺陷的深度測(cè)量精度達(dá)±1μm。圖像融合技術(shù)將表面反射光與內(nèi)部透射光信息疊加，實(shí)現(xiàn)從表皮到內(nèi)部0.2mm深度范圍內(nèi)的全截面檢測(cè)，避免傳統(tǒng)二維檢測(cè)的漏判風(fēng)險(xiǎn)。全過(guò)程采用氣浮搬運(yùn)與非接觸式成像，避免機(jī)械接觸導(dǎo)致的二次劃傷。治具盤(pán)采用防靜電POM材料，表面粗糙度Ra≤0.2μm，裝載過(guò)程不產(chǎn)生微粒污染。可選配離子風(fēng)幕模塊，滿足Class 100潔凈度要求的光學(xué)元件檢測(cè)環(huán)境。基于300+實(shí)際生產(chǎn)案例構(gòu)建的缺陷特征庫(kù)持續(xù)更新，當(dāng)前包含78類(lèi)常見(jiàn)缺陷的光學(xué)特征模板。系統(tǒng)具備遷移學(xué)習(xí)能力，新類(lèi)型缺陷標(biāo)注20個(gè)樣本即可達(dá)到90%以上識(shí)別率。工藝知識(shí)圖譜功能可自動(dòng)關(guān)聯(lián)缺陷類(lèi)型與加工參數(shù)，為制程改善提供數(shù)據(jù)支撐。江蘇優(yōu)普納科技的鏡片質(zhì)檢機(jī)，采用模塊化設(shè)計(jì)，便于后期升級(jí)維護(hù)，降低使用成本。

隨著科技的不斷進(jìn)步，對(duì)光學(xué)透鏡的精度要求越來(lái)越高，微小的缺陷都可能影響其光學(xué)性能。傳統(tǒng)檢測(cè)方法在面對(duì)納米級(jí)別的缺陷時(shí)往往力不從心，而新啟航3D白光干涉儀等先進(jìn)的光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備則突破了這一局限。它憑借0.1nm的垂直分辨率，采用寬光譜白光光源，通過(guò)優(yōu)化光學(xué)濾波系統(tǒng)、先進(jìn)算法以及配備高數(shù)值孔徑物鏡等技術(shù)手段，可讓各類(lèi)細(xì)微缺陷“無(wú)所遁形”。例如在光學(xué)鏡片表面檢測(cè)中，能清晰呈現(xiàn)深度0.5nm、寬度100nm的劃痕輪廓，并精確測(cè)量劃痕的深度、長(zhǎng)度、寬度等參數(shù)，為鏡片加工質(zhì)量評(píng)估提供了極為精確的數(shù)據(jù)支持，滿足了光學(xué)產(chǎn)品對(duì)高精度檢測(cè)的需求。江蘇優(yōu)普納科技的缺陷檢測(cè)儀，支持多語(yǔ)言操作界面，滿足全球化客戶需求。防呆設(shè)計(jì)內(nèi)窺鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備源頭工廠

江蘇優(yōu)普納科技的光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備，采用高分辨率成像，精確識(shí)別亞微米級(jí)劃痕、氣泡等缺陷，提升良率。全自動(dòng)光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠家

鏡片小批量多品種時(shí)代，傳統(tǒng) AOI 換型動(dòng)輒 2 小時(shí)，產(chǎn)能浪費(fèi)嚴(yán)重。優(yōu)普納裝備采用 100+ 件號(hào)配方+磁吸治具，換型時(shí)間壓縮至 3 分鐘；轉(zhuǎn)盤(pán)式結(jié)構(gòu)可快速拓展至 4 工位并行，產(chǎn)能翻倍無(wú)需二次投資。7 μm 分辨率與 12MP 相機(jī)保證檢測(cè)精度不隨品種變化；AI 算法自動(dòng)加載對(duì)應(yīng)缺陷模型，無(wú)需人工調(diào)試。鏡片缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)期沉睡，無(wú)法反哺工藝改進(jìn)。優(yōu)普納裝備內(nèi)置 SPC 模塊，實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)缺陷類(lèi)型、位置、頻率，自動(dòng)生成柏拉圖、趨勢(shì)圖、CPK 報(bào)告；AI 算法可關(guān)聯(lián)缺陷與工藝參數(shù)（溫度、壓力、時(shí)間），定位異常根因。轉(zhuǎn)盤(pán)式單顆檢測(cè)讓每片鏡片數(shù)據(jù)單獨(dú)，避免批量混淆。某光學(xué)廠利用優(yōu)普納 SPC 發(fā)現(xiàn)鍍膜前劃痕集中在第 3 工位，調(diào)整夾具后缺陷率下降 60%。全自動(dòng)光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備銷(xiāo)售廠家